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关于此会议

随着信号速率越来越高,产品越来越复杂,产品上市和要求的设计周期越来越短,信号完整性(SI)分析已经变得越来越重要。为了避免在产品设计中SI成为设计的瓶颈,我们需要快速并且多次的进行SI分析。

通常SI分析是由信号完整性工程师完成的,为了方便硬件/Layout工程师们快速的进行PCB的SI分析,是德科技新推出了EP-Scan电气性能扫描软件。EP-Scan 能够帮助硬件/Layout工程师快速识别 PCB 版图中的信号完整性问题,尽早发现设计错误,并轻松生成设计进度报告,克服性能验证的瓶颈,使您可以更快将产品推向市场。

本次研讨会我们将会介绍EP-Scan的功能,并演示如何通过EP-Scan加载PCB Layout设计,导入ODB++文件,选中特定的信号网络分析阻抗,插入损耗,延时,回波损耗等等。



活动日程

1电子产品设计流程
2为什么SI性能验证会成为设计流程中的瓶颈?
3硬件/Layout工程师如何快速进行PCB信号完整性分析?
4EP-Scan 功能演示



预先报名且现场填写问卷的网友,将有机会获得是德科技公司提供的精美礼品一份!




照片仅供参考,礼品以实物为准。

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